How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯
成本而

失芯
性能

下完成SOC系统芯
测试是芯
设计工程师和测试工程师当
所要面对
挑战。
15年前就开始使用
和升级人工智能

一直
稳步

己的


