We describe a subfringe integration interferometry for which the phase information is evaluated only from one interferogram.
叙述了次条纹积分干涉计量的原理，仅用一幅光载
干涉条纹
获取全部位相信息。
(
助干涉仪得到的冲击波或
他流体的照片)We describe a subfringe integration interferometry for which the phase information is evaluated only from one interferogram.
叙述了次条纹积分干涉计量的原理，仅用一幅光载干涉条纹获取全部位相信息。
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